整合性表面分析技術–針對複雜表面的物化特性分析方法：材料 ... | 合法醫療器材資訊網

2018年3月5日—對於表面敏感性的檢測技術之需求，表一列出可用技術的規格及適用範圍。工研院材化所微結構與特性分析研究室近年來著重於分子辨識力顯微鏡(Molecule ...

許多產品最終的性能都會表現在表面特性，然而表面是最敏感、最不易檢測的項目之一，僅不到1 nm的改質層就會完全改變表面特性，因此選擇適當的分析儀器與手法是相當重要的。因此，針對某特定材料之完整物理與化學特性檢測，需整合多項不同的檢測技術才能建構出完整之材料特性資訊。

本文將從以下大綱提供表面物理與化學特性的分析方法，由多種分析技術與多面向探討，可針對較複雜的改質表面，提供較完善客觀的資訊。 ‧前言 ‧掃描探針顯微技術–表面物性辨識 ‧能譜與光譜分析–表面化性 ‧物化特性整合性分析 ‧結論

【內文精選】 對於表面敏感性的檢測技術之需求，表一列出可用技術的規格及適用範圍。工研院材化所微結構與特性分析研究室近年來著重於分子辨識力顯微鏡(Molecule Recognition Force Microscopy; MRFM)的開發，亦稱作化學力顯微鏡(Chemical Force Microscopy; CFM)，由表一的比較中可發現，表面敏感性能力最佳的掃描探針顯微技術，搭配具有較高材料分辨解析力的X-光光電子能譜(X-ray Photoemission Spectroscopy; XPS)，是目前本團隊最常使用的研究方法。

掃描探針顯微技術–表面物性辨識 本團隊近幾年來所接觸的服務案例中，高分子表面改質與生醫材料表面特性(Surface Properties)在產品創新與性能卓越中一直扮演重要關鍵角色，原因是石化高值化與生技醫藥正是台灣這幾年發展的重點產業。在軟性高分子及活體之表面力學檢測上，原子力顯微鏡(Atomic Force Microscopy; AFM)技術，具有空間解析、樣品前處理程序簡易與可環境控制檢測之優點，能補足上述顯微鏡在表面力學特性檢測之不足。

新式的AFM掃描模式，探針與樣品的作用力小於50 pN，因此接觸壓力小非常多，適合用在軟物質掃描上。其功能大致為：可整合光學系統（Raman、螢光等）、適用於軟物質（力學及電學掃描）、<20 nm解析度、功...