高級XRF分析：FISCHERSCOPE® X | 合法醫療器材資訊網

XDV®-SDD是Fischer產品組合中功能最強大的X射線螢光分析儀之一。該XRF​光譜儀配備了特別靈敏的矽漂移檢測器（SDD）。這使您能夠非破壞性的測量最薄的 ...

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD 是 Fischer 產品組合中功能最強大的 X 射線螢光儀器之一。該 XRF 光譜儀配備了一個強大的高分辨率矽漂移探測器 (SDD)，有效面積為 50 mm²。這讓您可以精確且無損的測量最薄的鍍層 - 例如。 導線架上約 2 奈米厚的金鍍層。

裝載全新內部研發的數位脈衝處理器 DPP+，您可以將測量性能提升到一個新的層次。現在可以處理更高的計數率，從而縮短測量時間或提高測量結果的再現性。同時，XDV-SDD 非常適合無損材料分析。例如。它對塑料中微量鉛的檢測靈敏度約為 2 ppm——比 RoHS 或 CPSIA 所要求的數值低幾個數量級數。

為了給每次 XRF 塗鍍層厚度測量創造理想的測試條件，XDV-SDD 具有可更換的準直器和濾波器，使得可以在科學化的水準上工作。這款極其堅固的設備具有直觀的控制面板，可經由操縱桿和按鈕輕鬆操作，專為工業應用中的系列測試而設計。