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適合各種應用的合適設備.和XUL系列一樣，FISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一 ...

和XUL系列一樣，FISCHERSCOPE®X射線XAN®儀器非常適合分析簡單形狀的樣品。然而，XAN系列的一大優勢在於其高品質的半導體探測器。X射線螢光不僅可以測量鍍層的厚度，還可以分析合金（例如銅）的成份；

XAN系列總共包括5款桌上型XRF光譜儀，涵蓋廣泛的應用範圍。XAN215具有經濟高效的PIN檢測器。非常適合簡單的鍍層厚度任務，例如鐵上的鋅層或Au/Ni/Cu。對於更複雜的合金或貴金屬應用，我們建議使用含有矽漂移檢測器SDD的設備（例如XAN220）：由於其解析度更高，可以可靠地區分金和鉑。當您需要檢測微量重金屬和其他有害物質時，XAN250是您的理想選擇。