FIB TEM | 合法醫療器材資訊網
高解析雙粒子束-離子束顯微切削系統(DualBeamFocusedIonBeam(DB-FIB)),...使用,主要進行金屬、半導體材料樣品顯微切割與觀察,同時提供TEM試片製作,若 ...,FIB設備的具體應用可大致分類為:.積體電路的線路編修;定點剖面與SEM觀察;離子穿隧影像對比(IonChannelingContrast);穿透式電子顯微鏡(TEM)試片製備 ...,聚焦離子束(FIB)儀器使用精細聚焦的離子束來修改和成像感興趣的樣品。FIB主要用於創建非常精確的樣品橫截面,用於後續成像SEM,STEM或TEM或執行電路修改。,2010年1月12日—就技術需求而言,FIB斷層掃描分析在尺度上填補了...
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Electronic Materials Lab | 合法醫療器材資訊網
高解析雙粒子束-離子束顯微切削系統(Dual Beam Focused Ion Beam (DB-FIB)), ... 使用,主要進行金屬、半導體材料樣品顯微切割與觀察,同時提供TEM試片製作,若 ... Read More
FIB - 聚焦離子束顯微鏡 | 合法醫療器材資訊網
FIB設備的具體應用可大致分類為:. 積體電路的線路編修; 定點剖面與SEM觀察; 離子穿隧影像對比(Ion Channeling Contrast); 穿透式電子顯微鏡(TEM) 試片製備 ... Read More
聚焦離子束| 雙光束FIB服務 | 合法醫療器材資訊網
聚焦離子束(FIB)儀器使用精細聚焦的離子束來修改和成像感興趣的樣品。 FIB主要用於創建非常精確的樣品橫截面,用於後續成像SEM, STEM或TEM 或執行電路修改。 Read More
聚焦離子束斷層掃描分析技術介紹:材料世界網 | 合法醫療器材資訊網
2010年1月12日 — 就技術需求而言,FIB斷層掃描分析在尺度上填補了穿透式電子顯微鏡(Transmission Electron Microscope; TEM)斷層掃描與X光顯微鏡斷層掃描兩個主流技術 ... Read More
FIB(聚焦離子束) 歐陸食品檢驗 | 合法醫療器材資訊網
2020年12月10日 — Dual Beam是將FIB/SEM兩種技術結合成一個工具,利用FIB準備樣品並且使用SEM、TEM或STEM儀器得到電子影像, 而Single Beam的FIB是只有一個離子束源。 樣品 ... Read More
Focused Ion Beam (FIB) combined with SEM and TEM ... | 合法醫療器材資訊網
由 R Wirth 著作 · 2009 · 被引用 489 次 — The focused ion beam technique (FIB) is an ideal tool for TEM sample preparation that allows for the fabrication of electron-transparent ... Read More
前瞻聚焦離子束系統/Advanced Focused Ion Beam System | 合法醫療器材資訊網
(FIB). 聚焦離子束系統(focus ion beam,FIB)是廿世紀新開發的指標性儀器之一,兼聚臨場橫截面與平面分析,定點TEM試片製作,微奈米圖案與元件製作等重要功能於一機。 Read More
雙束聚焦離子束(Dual Beam FIB) | 合法醫療器材資訊網
2017年7月3日 — 具備超高解析度的離子束及電子束的Dual-beam FIB,能針對樣品中的微細結構進行奈米尺度的定位及觀察。離子束最大電流可 ... 銅晶粒分析. TEM樣品製備. Read More
Focused ion beam | 合法醫療器材資訊網
The FIB is also commonly used to prepare samples for the transmission electron microscope. The TEM requires very thin samples, typically ~100 nanometers or ... Read More
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【食道纖維鏡】許可證字號:衛署醫器輸字第000201號
器材品名:食道纖維鏡許可證字號:衛署醫器輸字第000201號註銷狀態:已註銷註銷日期:1986/10/27註銷理由:列屬無須查驗登記項目...