場發射掃描穿透式電子顯微鏡(FESTEM) | 合法醫療器材資訊網
儀器中文名稱:場發射掃描/穿透式電子顯微鏡.儀器英文名稱:FieldEmissionScanning/TransmissionElectronMicroscope.儀器英文簡稱:FES/TEM.儀器設備說明:.
儀器中文名稱:場發射掃描/穿透式電子顯微鏡
儀器英文名稱:Field Emission Scanning/ Transmission Electron Microscope
儀器英文簡稱:FES/TEM
儀器設備說明:
購置時間:107年7月至108年3月 開放服務:108年7月 放置地點:工程一館142實驗室(E1-142 Lab) 廠牌型號:FEI (Thermo Fisher Scientific), Talos F200XG2 規格:(1)加速電壓:200 KV
(2)TEM分辨率:0.12nm
(3)STEM HAADF分辨率:0.16 nm
(4)Super-X EDS 系統: 對稱設計的4個SDD,無窗式
(5)快速 EDS 收集成像: 像素停留時間10 µs
(6)EDX 立体角:0.9 srad
(7)camara length:12–5700 mm
(8)双傾斜試片座的最大傾斜角度:±30˚
(9)STEM Detector:BF、DF2、DF4、HAADF
服務項目:
針對不同類型材料,提供高解析度的影像觀察及微區繞射分析,也可進行樣品不同維度的影像及成分分析,並獲得樣品升溫反應資訊。
微結構觀察:明視野、暗視野影像分析;高解析影像分析。 電子繞射分析。...
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