X光繞射儀（XRD） | 合法醫療器材資訊網

基本上晶體之X光繞射實驗提供兩項重要訊息：一是繞射峰的位置(2θ)，二是繞射鋒的強度(I)。第一項訊息提供了晶體之晶胞形狀與大小(即晶格參數)的資料；第二項 ...

X射線繞射儀（X-ray diffractometer，XRD）是利用X射線繞射原理研究物質內部結構的一種大型分析儀器。令一束X射線和樣品交互，用生成的繞射圖譜來分析物質 ... Read More

X光繞射技術 — X光散射技術或X射線繞射技術（英語：X-ray scattering techniques）是一系列常用的非破壞性分析技術，可用於揭示物質的晶體 ... Read More

繞射資料收集 — 在獲得單晶之後，就需要進行繞射實驗，即用X射線打到晶體上，產生繞射，並記錄繞射資料。由於結晶條件的苛刻和晶體本身的脆弱， ... Read More

該方法利用的就是這個原理。之所以採用X光，是因為X光的波長與大多數分子或者晶胞大小相差不多，能夠在分子或晶體的微觀 ... Read More

在物理學中，布拉格定律給出晶格的相干及不相干散射角度。當X射線入射於原子時，跟任何 ... 布拉格繞射（又稱X射線繞射的布拉格形式），最早由威廉·勞倫斯·布拉格及威廉·亨利·布拉格於1913年提出，他們早前發現了固體在反射X射線後產生的 ... Read More

2011年12月23日 — X-光繞射(X-ray diffraction)是最常見用來決定固體晶體結構的工具，簡稱為XRD（圖一）。繞射發生於當光束被一規則排列點或線的散射，散射後 ... Read More

基本上晶體之X光繞射實驗提供兩項重要訊息：一是繞射峰的位置(2θ)，二是繞射鋒的強度(I)。第一項訊息提供了晶體之晶胞形狀與大小(即晶格參數)的資料；第二項 ... Read More

名詞解釋: X光繞射後主要用於各種物相組成的分析及微觀結構之觀察，如結晶狀態、結晶度、結晶分析、晶胞常數及平均晶粒大小等。其原理為：當X射線照射到 ... Read More

由陳奎伯著作 · 2003 — 一九一二年德國的物理學家馮勞允(Max von Laue)將一硫酸銅之晶. 體置於一束較細之X 光通路中，同時置照相底片於晶體之後面，用以記. 錄是否有X 光繞射之存在。 Read More

由楊仲準著作 — 本文將由X 光粉末多晶繞射分析技術出發，並藉由所獲得之晶體參數，介紹其延伸應用，以利. 讀者對於X 光晶體繞射有更深一層之認識。 X-ray diffraction is an ... Read More

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