X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀FISCHERSCOPE® X | 合法醫療器材資訊網

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE®X-​RAYXDLM®237是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀[1]/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237采用手動或自動方式，測量和分析微小結構的印刷線路板、電氣元件及大規模生產的零部件上的鍍層。典型的應用領域有：

1，測量大規模生產的電鍍零部件

2，測量微小區域上的薄鍍層

3，測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

4，全自動測量，如測量印刷線路板

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237為每次測量創造理想的激發條件，儀器配備可電動調整的多個準直器和基本濾片。比例接收器能實現高計數率，這樣就可以進行高精度測量。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDLM237系統有著出色的精-確性和良好的長期穩定性，這樣就不需要經常校準儀器，節省時間和精力。由于采用了基本參數法，無論是鍍層系統還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。

X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀/X射線測厚儀/熒光膜厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDLM® 237設計理念：

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